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高分子光導波路の試験方法 JPCA-PE02-05-01S-2008

s046

高分子光導波路の試験方法  (s046)

  • JPCA-PE02-05-01S-2008
  • 2008年 6月 第1版 第1刷発行
  • A4判 19ページ


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目次
規格項目
1. 適用範囲(Scope)
 この規格は、高分子光導波路の試験方法に関するものである。ただし、プレーナ導波路、プラスチック光ファイバは除く。
2. 引用規格(Normative references)
3. 用語(Terms and Definitions)
4. 測定方法(Measurement Methods)
4.1 測定環境条件
4.2 外観検査
4.3 寸法測定
4.4 開口数
4.5 引き剥がし強度
4.6 挿入損失
4.6.1 挿入損失の測定方法
4.6.2 単位長さあたりの光伝搬損失の測定方法
4.6.2.1 カットバック方法
4.6.2.2 簡易方法
4.6.3 ミラー損失の測定方法
4.6.4 曲げ損失の測定方法
5. 高分子光導波路の種類と試験項目
6. 試験方法(Test Methods)
6.1 機械特性試験(繰り返し曲げ試験)
6.1.1 耐屈曲試験
6.1.2 耐折試験
6.2 環境特性試験
6.2.1 高温放置試験
6.2.2 低温放置試験
6.2.3 高温高湿放置試験
6.2.4 温湿度サイクル試験
6.2.5 温度サイクル試験
6.2.6 プレッシャークッカ試験(PCT)
6.3 その他の試験
6.3.1 耐熱性試験
6.3.2 耐伝搬光試験
6.3.3 耐紫外線試験
6.3.4 耐薬品性試験
6.3.5 耐溶剤性試験
Annex A(付加情報)
試験用標準サンプル
Annex B(付加情報)
吸水による挿入損失増加測定


注文番号 タイトル 販売価格(税別)
在庫状態 数量 単位  
s046-k 会員価格 ¥1,000
在庫有り
s046 頒布価格 ¥2,000
在庫有り
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