• アクセスマップ
  • サイトマップ
  • お問い合わせ
  • English

部品内蔵基板規格(JPCA-EB01)試験方法が国際規格(IEC 62878-1-1)に!

  • 2015年06月04日

  • JPCA規格(EB01)をベースとした規格が、世界初の正式な国際規格として、部品内蔵規格(IEC 62878-1-1 『Device embedded substrate – Part 1-1: Generic specification – Test methods』)となりました!! 詳細は下記IECウェブサイトをご参照下さい。

    →【IECウェブサイト】を見る


    JPCA based document has become the first international standard for device embedded substrate from IEC (IEC 62878-1-1: Device embedded substrate – Part 1-1: Generic specification – Test methods)!! Please refer to the IEC website for the details: https://webstore.iec.ch/publication/22483



    JPCA-EB01が原案の下記3件も、IECより発行されております。
    ①IEC/TS 62878-2-1(通則)(2015-03-30)
    https://webstore.iec.ch/publication/22022

    ②IEC/TS 62878-2-3 Ed. 1.0(デザインガイド)(2015-03-27)
    https://webstore.iec.ch/publication/22013

    ③IEC/TS 62878-2-4 Ed. 1.0(TEG)(2015-03-26)
    https://webstore.iec.ch/publication/22014



    ページトップへ戻る
    JPCAへのお問い合わせ